蔡司X射線顯微鏡-3D射線顯微鏡
蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 730
蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 730 出色的斷層掃描，¹時刻滿足每位用戶、各種樣品的多樣化需求探索蔡司VersaXRM 730的無限潛能，盡享其特色的40×-Prime物鏡和屢獲殊榮的ZEN navx。該系統(tǒng)憑借出眾的圖像分辨率性能，重新定義了亞微米成像，為您的研究帶來了全新的突破性功能。ZEN navx利用智能系統(tǒng)的洞察力簡化工作流，確
蔡司微焦點CT Xradia Context microCT
蔡司Xradia Context是一種大視場，非破壞性3D X射線微型計算機斷層掃描系統(tǒng)。 借助強大的平臺和靈活的軟件控制源/探測器定位，您可以在完整的3D環(huán)境中對大型，重型(25 kg)和高樣本進行成像，以及具有高分辨率和細節(jié)的小樣本。 獲取完整的電子元件，大型原材料樣品或生物樣品的3D數(shù)據(jù)。 執(zhí)行非破壞性故障分析，以識別內部缺陷，而無需切割樣品或工件 表征和
進口X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra
擴展非破壞性納米尺度成像的范圍和價值 使用蔡司Xradia 810 Ultra X射線顯微鏡實現(xiàn)低至50 nm的空間分辨率，這是基于實驗室的X射線成像系統(tǒng)中*高的。 通過非破壞性3D成像體驗的性能和靈活性，在當今的突破性研究中發(fā)揮著至關重要的作用。 創(chuàng)新的Xradia Ultra架構采用獨特的X射線光學系統(tǒng)，采用同步加速器技術，具有吸收和相位對比。 現(xiàn)在能量為5.4 keV
蔡司X射線顯微鏡Xradia610 & 620 Versa
蔡司X射線顯微鏡Versa憑借優(yōu)異的大工作距離高分辨率(RaaD)的特性，成為了全球優(yōu)秀研究人員和科學家的“有力幫手”。在相對大工作距離下也能保持高分辨率，有助于產(chǎn)生意義非凡的科學見解和發(fā)現(xiàn)。隨著當今技術的快速發(fā)展，對分析儀器也提出了更高的要求，而蔡司Xradia 600 Versa系列就是專為應對這一挑戰(zhàn)而設計的。 蔡司X射線顯微鏡Xradia 610 & 620
蔡司3D射線顯微鏡Xradia 510 Versa
蔡司Xradia 510 Versa具有突破性靈活性的3D亞微米成像系統(tǒng) 用這款X射線顯微鏡打破1微米分辨率的障礙，進行3D成像和原位/ 4D研究。 將分辨率和對比度與靈活的工作距離結合使用，可以擴展實驗室中的非破壞性成像能力。 得益于其采用兩級放大技術的結構，可以實現(xiàn)遠距離(RaaD)的亞微米分辨率。減少對幾何放大率的依賴性，即使在較大的工作距離下也可保持亞微米
